產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
Lumina光學表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測，其價格優(yōu)勢使其成為適合于研發(fā)/小批量生產(chǎn)過程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。
更新時間：2025-09-25
產(chǎn)品型號：Lumina
瀏覽量：5641
當前位置：
