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產(chǎn)品中心掃描熱學(xué)顯微鏡
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掃描熱學(xué)顯微鏡驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過(guò)幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測(cè)區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
更新時(shí)間：2024-06-17
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掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過(guò)使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過(guò)熱信號(hào)成像放大器，通過(guò)AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖?？梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。
更新時(shí)間：2025-09-25產(chǎn)品型號(hào)：VertiSense瀏覽量：2681